现如今，随着集成电路的不断发展和进化，制造商需要能够更好地测试它们。扫描测试是其中一种重要的测试方法，可以提高测试的效率和准确性。但是，随着集成电路的规模不断增大，扫描测试带来的开销和复杂性也不断增加。为了克服这些挑战，制造商们需要优化扫描测试方法。
优化方法包括：减少扫描链长度、使用压缩技术、选择经过验证的模式库以及分层测试。使用这些方法可以提高测试的效率和准确性，同时最大程度地减少测试开销。有些方法还可以在不影响测试质量的前提下，缩短测试时间。
制造商应根据其独特的制造需求和测试目标，选择最合适的扫描测试优化方法。通过实现这些方法，制造商可以提高其测试能力，同时降低制造成本。
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